[신기술] 에이블릭, UV-A, UV-B 감지 실리콘 광전 다이오드 S-5420 출시
[신기술] 에이블릭, UV-A, UV-B 감지 실리콘 광전 다이오드 S-5420 출시
  • 정지수 기자
  • 승인 2018.08.13 14:35
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일본의 반도체 제조회사 에이블릭(ABLIC)이 UV-A에서 UV-B에 이르는 자외선(UV) 감지가 가능한 실리콘[2] 기반 UV 광전 다이오드 S-5420을 출시했다고 13일 밝혔다.

S-5420은 가시 광선을 제거하고 고감도 및 저감도 광전 다이오드 시그널의 차이를 계산함으로써 필터 없이도 UV 광선을 감지해낼 수 있다.

필터가 없는 까닭에 소형 어플리케이션도 가능하고 필터로 인한 감쇠(減衰) 현상도 방지할 수 있다. 소형 투명수지 패키지는 웨어러블 기기의 디자인 유연성을 더해준다.

이 제품은 도호쿠 대학 공학연구과 스가와 시게토시(Shigetoshi Sugawa) 및 구로다 리히토(Rihito Kuroda) 교수가 이끄는 연구 팀에 의해 공동 개발됐다.

실리콘 반도체의 활용 덕택으로 S-5420은 피부 흠집과 주름을 유발하는 UV-A 범위 내의 UV 광선에서 화상을 초래하는 UV-B 범위까지를 측정할 수 있다. 소형 투명수지 패키지의 S-5420은 다양한 웨어러블 기기에 맞기 때문에 누구든지 손쉽게 UV 광선 강도를 측정할 수 있게 한다.

사이즈가 작은 덕택으로 산업용으로 쓰이는 자외선 방사조도 및 노출계에도 적용될 수 있는 디자인 유연성을 갖는다.

[원문]

ABLIC Inc. Launches the S-5420, One of the Industry’s Smallest[1] UV-A, UV-B Sensing Silicon Photodiodes

CHIBA, JAPAN--(Business Wire / Korea Newswire) August 13, 2018 -- ABLIC Inc. (hereinafter “ABLIC”), the semiconductor manufacturer, launched the S-5420, a UV light photodiode manufactured from silicon[2] that detects UV light from the UV-A to the UV-B range[3].

The S-5420 detects UV light without a filter by calculating the difference between high and low-sensitivity photodiode signals to remove visible light. The filter-less structure enables compact applications and prevents filter-induced attenuation. The compact transparent resin package expands the design flexibility of wearable devices.

This product is co-developed by a research team led by professors Shigetoshi Sugawa and Rihito Kuroda at the Graduate School of Engineering, Tohoku University.

Thanks to the use of silicon semiconductors, the S-5420 can measure UV light from the UV-A range, which causes skin blemishes and wrinkles, to the UV-B range, which causes sunburn. The small size of the S-5420 transparent resin package makes it easy to fit it into a variety of wearable devices allowing anyone to easily measure UV light intensity.

Compact size also promises high design flexibility of industrial devices like UV irradiance and exposure meters.


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